應(yīng)力篩選冷熱沖擊試驗(yàn)箱仿真不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境，縮短測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試費(fèi)用，但是必須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。

　　應(yīng)力篩選冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn)

　　◆ 一機(jī)可執(zhí)行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能

　　◆ 等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃(40℃)

　　◆ 采用美國(guó)Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行

　　◆ 除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時(shí)完成

　　◆ 通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存曲線下載功能

　　◆ 機(jī)臺(tái)多處報(bào)警監(jiān)測(cè)，配置無(wú)線遠(yuǎn)程報(bào)警功能

　　應(yīng)力篩選冷熱沖擊試驗(yàn)箱應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)

　　1.GB/T 10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　2.GB/T 11158-1989 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　4.GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

　　5.GB/T 2423.2-2001試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

　　6.GB/T 2423.22-2002試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法

　　7.GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)

　　8.GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)