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成端過程中產生的大衰耗點在光纜成端過程中,也經常會產生大衰耗點。在成端時,由于一般不進行熔接損耗監(jiān)測,僅憑經驗操作,因此,產生大衰耗點的幾率也大增。此外,在光纖熔接后安裝收容盤時,往往造成收容盤附近的光纖束管彎曲半徑過小或造成光纖束管擰轉變形,使光纖在此處產生一個較大的衰耗點,此類大衰耗點一般比較隱蔽,不像線路中間的大衰耗點用OTDR可以直接測出。光纜大衰耗點的查找定位和處理一般產生大衰耗點的位置光纜接續(xù)完成后,我們一般要對整個中繼段用OTDR進行測試,通過測試,可以檢驗接續(xù)完的光纜中繼段的光特性是否符合施工規(guī)范和驗收標準的要求,主要從以下幾個方面進行考核:中繼段全程總衰耗是否小于設計規(guī)定(也就是平均衰耗系數(shù)是否小于設計規(guī)定值);中繼段接頭雙向平均衰耗值是否小于驗收標準和設計要求;中繼段后向散射曲線是否斜率均勻,曲線平滑,除正常的接頭衰耗點的小臺階外,曲線上應無大衰耗臺階。利用OTDR進行光中繼段測試和人衰耗點定位時,首先應正確地設置儀表的測試參數(shù),諸如測試量程、測試波長、脈沖寬度、折射率和平均化處理時間等。
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影響質量的因素分析光纖接續(xù)時的端面制作,光纖盤留,及接頭盒組裝是影響接續(xù)質量的主要因素,因此一支經過培訓的化光纜接續(xù)測試隊伍,制定一整套科學、合理的光纜操作工藝是光纜接續(xù)質量的。光纖端面制作。光纖的清潔狀況。光纖接頭熱熔保護。用OTDR對光纜單盤測試。用OTDR對每根光纖熔接過程進行監(jiān)測。光纖接續(xù)時,在熔接過程中進行實時監(jiān)測,盤留后進行復測。測試中繼段衰減和平均接頭損耗。中繼段衰減應滿足設計文件要求,單模光纖一個光纜中繼段內每根光纖接續(xù)損耗平均值不應大于0.08dB(1300nm、1550nm)。
光纜(optical fiber cable)是為了滿足光學、機械或環(huán)境的性能規(guī)范而制造的,它是利用置于包覆護套中的一根或多根光纖作為傳輸媒質并可以單獨或成組使用的通信線纜組件。
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光纖網絡系統(tǒng)設計:光纖系統(tǒng)的設計一般遵循以下步驟:首先弄清所要設計的是什么樣的網絡,其現(xiàn)狀如何,為什么要用光纖。根據(jù)實際情況選擇合適是光纖網絡設備、光纜、跳線及連接用的其它物品。選用時應以可用為基礎,然后再依據(jù)性能、價格、服務、產地和品牌來確定。按客戶的要求和網絡類型確定線路的路由,并繪制布線圖。路線較長時則需要核算系統(tǒng)的衰減余量,核算可按下面公式進行:衰減余量=發(fā)射光功率-接受靈敏度-線路衰減-連接衰減(dB)其中線路衰減=光纜長度×單位衰減;